IoT工控物联网

芯片测试：WAT、CP、FT

点击上方蓝字谈思实验室获取更多汽车网络安全资讯正文CP是把坏的Die挑出来，可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道Wafer 的良率。FT是把坏的chip挑出来；检验封装的良率。现在对于一般的wa...
admin 10月30日123 views评论chip die
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CTF专场

攻防世界easytornado

打开做题环境后，会发现这么一个页面，也就是三个文件，里面都有一些内容，应该是和我们的做题步骤应该是有所关联的按照文件顺序打开，分别是这三个内容，一个告诉我们flag的路径在/fllllllllllll...
admin 10月30日47 views评论handler payload
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