IoT工控物联网 芯片测试:WAT、CP、FT 点击上方蓝字谈思实验室获取更多汽车网络安全资讯正文CP是把坏的Die挑出来,可以减少封装和测试的成本。可以更直接的知道Wafer 的良率。FT是把坏的chip挑出来;检验封装的良率。现在对于一般的wa... 10月30日47 views评论die qual 阅读全文
安全开发 Qual+Android方案Unlock学习 以Oneplus7Pro为例 免费&进群背景严格意义上来说本文应该叫做: <<我本来只是想救个砖,但是却逆向了刷机工具尝试搞清楚android unlock的原理>> :D前段时间因为一些工作需求想... 10月12日32 views评论ops status 阅读全文